日本HIOKI日置在線測(cè)試機(jī)1220優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱(chēng): 日本HIOKI日置在線測(cè)試機(jī)1220優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
產(chǎn)品型號(hào): 1220
產(chǎn)品展商: 日本HIOKI日置
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
日本HIOKI日置在線測(cè)試機(jī)1220優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
日本HIOKI日置在線測(cè)試機(jī)1220優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
日本HIOKI日置在線測(cè)試機(jī)1220優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
的詳細(xì)介紹
保證貼片基板質(zhì)量的提高
● 功能集成到一個(gè)主機(jī)-桌上型（1220-50）
● 電解電容?IC反裝檢出（選件）
● 提升測(cè)試效率的宏測(cè)試
● 可組合成各種測(cè)試系統(tǒng)
機(jī)型
1220-50 (桌上型)
1220-51 (臺(tái)式型)
1220-52 (靈巧型)
1220-55 (在線型)
在線測(cè)試機(jī)可做什么
在線測(cè)試機(jī)是利用電氣測(cè)試驗(yàn)證貼裝線路板是否為良品的測(cè)試裝置。
HIOKI在線測(cè)試機(jī)，其測(cè)試結(jié)果是基于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并可追溯的，為客戶(hù)提供高信賴(lài)性的測(cè)試。另外，隨著近年基板模塊化、元件精細(xì)化的發(fā)展，在外觀檢查中越來(lái)越多地出現(xiàn)以下難以檢出的**?？蛻?hù)也把目光聚焦在可提供安心可靠的實(shí)動(dòng)測(cè)試和功能檢查等多樣測(cè)試的在線測(cè)試機(jī)上。
?元件底下發(fā)生的**（焊錫散落等）
?貼片后的線路板**（因熱導(dǎo)致的斷線等）
?元件自身的內(nèi)部**（芯片裂縫等）
Flash Programing程序?qū)懭?
近年來(lái)，閃存單片機(jī)的量產(chǎn)使用以及工廠內(nèi)在線寫(xiě)入的檢討·導(dǎo)入的需求越來(lái)越多。
把在線測(cè)試機(jī)與FlashPrograming程序?qū)懭虢Y(jié)合在一起，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)品質(zhì)提升·成本下降·速度提高。
[ ①貼片確認(rèn) →?、诔绦?qū)懭搿 、蹌?dòng)作測(cè)試 ]
→ 在線測(cè)試機(jī)綜合判定
可配套的程序?qū)懭朐O(shè)備
LED顏色識(shí)別·亮度判定
1220裝配電源供給單元后，可在一個(gè)治具上實(shí)現(xiàn)貼片測(cè)試和LED測(cè)試。
一站完成，不僅僅縮短測(cè)試時(shí)間，同時(shí)匯總的數(shù)據(jù)也方便測(cè)試后進(jìn)行解析。
PAT(Part Average Testing)
為了提高品質(zhì)管控，在基板測(cè)試中導(dǎo)入PAT技術(shù)，把RANK判定功能搭配在ICT測(cè)試機(jī)上。
在脫離測(cè)量主數(shù)據(jù)的偏離值（異常值）上增加RANK判定。
同時(shí)，可以根據(jù)每個(gè)元件的實(shí)際，自由設(shè)定是否需要RANK判定。
測(cè)點(diǎn)信息顯示（UA1782）
「治具上的異常探針 究竟是測(cè)試線路板的哪里呢？」
測(cè)試時(shí)使用點(diǎn)瀏覽功能、或離線使用FAIL VIEWER UA1782的話，可以簡(jiǎn)單定位異常探針的所在以及完成元件搜索。
「編程、測(cè)試、確認(rèn)」 貼裝基板的電氣測(cè)試系統(tǒng)
請(qǐng)務(wù)必體驗(yàn)*新的量產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)。
「編程」測(cè)試數(shù)據(jù)制作系統(tǒng) UA1780 測(cè)試治具
「測(cè)試」在線測(cè)試機(jī) 1220
「確認(rèn)」FAIL VIEWER UA1782
在貼裝基板的測(cè)試中，正確制作測(cè)試程序、正確測(cè)試對(duì)象基板、正確確認(rèn)**異常是非常重要的。
■ 概略規(guī)格
|
|
1220-50
|
1220-51
|
1220-52
|
1220-55
|
|
測(cè)試內(nèi)容 ·范圍
|
整體短路/開(kāi)路、元件測(cè)量
|
|
|
宏測(cè)試: 10 Ω?10MΩ Ω (阻抗)
|
|
|
電阻: 400 μΩ?40M Ω
|
|
|
電容: 10 pF?400 mF
|
|
|
電感: 1 μH?100 H
|
|
|
二極管、三極管 (VF): 0 V?25 V
|
|
|
齊納二極管 (VZ): 0 V?25 V (25 V?120 V是選件功能)
|
|
|
數(shù)字三極管 (Q): 0 V?25 V
|
|
|
光 耦: 0 V?25 V
|
|
|
電容反裝檢出 (選件), IC反裝檢出 (選件)
|
|
*大測(cè)試點(diǎn)數(shù)
|
2,176點(diǎn) (追加3個(gè)擴(kuò)展箱時(shí)),
標(biāo)準(zhǔn): 128點(diǎn)
|
2,176點(diǎn) (追加3個(gè)擴(kuò)展箱時(shí)),
標(biāo)準(zhǔn): 320點(diǎn)
|
1,536點(diǎn) (追加2個(gè)擴(kuò)展箱時(shí)),
標(biāo)準(zhǔn): 320點(diǎn)
|
2,176點(diǎn) (追加3個(gè)擴(kuò)展箱時(shí)),
標(biāo)準(zhǔn): 320點(diǎn)
|
|
|
可以64點(diǎn)為單位增加測(cè)試點(diǎn)數(shù)
|
|
*大測(cè)試步數(shù)
|
10,000步
|
|
測(cè)試時(shí)間
|
整體短路/開(kāi)路: 約0.8 msec?/點(diǎn)
元件測(cè)量: 約0.9 msec?/步
|
|
可測(cè)基板尺寸
|
390 (W) × 300 (D)mm
|
|
電源
|
AC100 V ±10% (特殊規(guī)格下單時(shí)指定), 消耗功率: 700?1000VA
|
|
尺寸?重量
|
200W × 325H × 298Dmm, 10 kg
|
1030W × 1470H × 710Dmm, 240 kg
|
655W × 1610H × 705Dmm, 220 kg
|
-
|
