日本TOKYO DYLEC東京樂彩納米掃描流動粒度儀 SMPS3938E77

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產(chǎn)品名稱: 日本TOKYO DYLEC東京樂彩納米掃描流動粒度儀 SMPS3938E77

產(chǎn)品型號: SMPS3938E77

產(chǎn)品展商: TOKYO DYLEC東京樂彩

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簡單介紹

日本TOKYO DYLEC東京樂彩納米掃描流動粒度儀 SMPS3938E77 日本TOKYO DYLEC東京樂彩納米掃描流動粒度儀 SMPS3938E77

日本TOKYO DYLEC東京樂彩納米掃描流動粒度儀 SMPS3938E77 的詳細(xì)介紹

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－1nmまで測定可能範(fàn)囲が広がった走査式ナノ粒子粒徑分布計測器－

＜概要＞
1μm以下のエアロゾルの粒徑分布を判斷するための基準(zhǔn)として、TSIのSMPS^TMは広く使われています。モデル3777 Nano Enhancerとモデル3086 Differential Mobility Analyzer（1nm-DMA）の追加により、SMPSの測定可能範(fàn)囲は、*小1nmまで広がりました。

＜特徴＞
高分解能データ：64ch/decadeの分解能を有します(1～50nmの粒徑分布で109chのチャンネル數(shù)) 柔軟な使用が可能なコンポーネントデザイン幅広い計測粒徑レンジ：計測可能レンジは1～50nm 3081A Long DMAの追加で1nmから1000nmまでの3decade分の測定可能拡散ロスを少まで抑えた適なシステム専用ソフトウェア Aerosol Instrument Manager(AIM)により操作可能精密な粒子測定：多モード?様々なサンプルを測定可能

＜特徴＞